一、設備概況

1.1產品品稱：目檢強光燈

1.2品牌：CSMHK

1.3型號：QG-150/QG-250

1.4產品應用：用于肉眼觀察的照明設備，可檢測各種半導體晶片（硅片，砷化鎵，藍寶石，碳化硅等）及液晶基板，在加工中形成異物，刮痕，拋光不均，霧狀，劃傷等。

二、技術特點

2.1 大于300,000/400,000/500,000/600,000 luxes的照明光線，可容易檢測出只有精密探測儀才可檢測出的瑕疵；

2.2 使用鹵素燈作為光源，色溫高達3400°K，照光和顏色均保證了穩定強光的照射；

2.3 冷鏡的使用，使得熱影響與常規鋁鏡相比減少35%—50%；

2.4 可選黃光，藍光，綠光等偏光，進一步區分污染物、油墨殘留等特定缺陷?；

2.5 光束直徑由鏡片調整，30—50mm自由調節；

2.6 底部開光，調整照明勘察器高度，操作簡便，可控制勘察高度（140—300mm）。

三、主要技術參數